MC-2000D涂層測(cè)厚儀

應(yīng)用范圍：

MC-2000D涂層測(cè)厚儀采用磁性測(cè)厚法，可以方便無(wú)損地測(cè)量鐵磁材料上非磁性涂層的厚度，如鋼鐵表面上的鋅、銅、鉻等鍍層或油漆、搪瓷、玻璃鋼、噴塑、瀝青等涂層的厚度。該儀器廣泛應(yīng)用于機(jī)械、汽車(chē)、造船、石油、化工、電鍍、噴塑、搪瓷、塑料等行業(yè)。

工作原理：

采用電磁感應(yīng)法測(cè)量涂（鍍）層的厚度。位于部件表面的探頭產(chǎn)生一個(gè)閉合的磁回路，隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變，該磁回路將不同程度的改變，引起磁阻及探頭線圈電感的變化。利用這一原理可以精確地測(cè)量探頭與鐵磁性材料間的距離，即涂（鍍）層厚度。

MC-2000D涂層測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù)：

影響測(cè)量的若干因素：

基體金屬磁化

磁性法測(cè)量受基體金屬磁性變化的影響（在實(shí)際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的）。為了避免熱處理、冷加工等因素的影響，應(yīng)使用與鍍件金屬具有相同性質(zhì)的鐵基片上 對(duì)儀器進(jìn)行校對(duì)。

基體金屬厚度

每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度，大于這個(gè)厚度測(cè)量就不受基體厚度的影響。

邊緣效應(yīng)

本儀器對(duì)試片表面形狀的陡變敏感，因此在靠近試片邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測(cè)量是不可靠的。

曲率

試件的曲率對(duì)測(cè)量有影響，這種影響是隨著曲率半徑減小明顯增大。因此不應(yīng)在試件超過(guò)允許的曲率半徑的彎曲面上測(cè)量。

表面粗糙度

基體金屬和表面粗糙度對(duì)測(cè)量有影響。粗糙度增大，影響增大。粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差。每次測(cè)量時(shí)，在

不同位置上增加測(cè)量的次數(shù)，克服這種偶然誤差。

如果基體金屬粗糙還必須在未涂覆的粗糙相類(lèi)似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對(duì)儀器的零點(diǎn)；或用沒(méi)有腐蝕性的溶液除去在基體金屬上的覆蓋層，再校對(duì)儀器零點(diǎn)。

磁場(chǎng)

周?chē)鞣N電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場(chǎng)，會(huì)嚴(yán)重地干擾磁性測(cè)量厚度的工作。

附著物質(zhì)

本儀器對(duì)那些妨礙探頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感。因此必須清除附著物質(zhì)，以保證探頭與覆蓋層表面直接接觸。

探頭的放置

探頭的放置方式對(duì)測(cè)量有影響，在測(cè)量中使探頭與試樣表面保持垂直。

試片的變形

探頭使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上會(huì)出現(xiàn)不太可靠的數(shù)據(jù)。

讀數(shù)次數(shù)

通常儀器的每次讀數(shù)并不*相同。因此必須在每一測(cè)量面積內(nèi)取幾個(gè)測(cè)量值，覆蓋層厚度的局部差異，也要求在給定的面積內(nèi)進(jìn)行測(cè)量，表面粗糙時(shí)更應(yīng)如此。